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首頁(yè)-產(chǎn)品展示-工業(yè)及半導(dǎo)體檢測(cè)解決方案-晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)

半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)/國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)

SOPTOP AWL 系列半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)/國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)是由高精度光學(xué)檢測(cè)顯微鏡搭載全自動(dòng)晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成,支持4-12寸的晶圓尺寸,可輕松實(shí)現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細(xì)節(jié)的高清捕捉,可對(duì)半導(dǎo)體過程工藝中的關(guān)鍵參數(shù)、缺陷問題進(jìn)行有效監(jiān)控,是晶圓來料檢測(cè)和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。

更新日期:2024-01-31

型號(hào):AWL系列

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

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